一、 問題的現象及描述
某專案小批量試產100臺，系統測試發現5pcs g模evm偏高，測試不過問題，另乙個專案試產30臺出現1pcs g模evm偏高，研發這邊實驗室確認，功率從22dbm降低到10dbm，evm沒有明顯變化，都只有-25~-26db；
二、 問題分析
研發實驗室對工廠測試不過的pcb板進行測試，發現無**率調高還是調低，evm都沒有任何改善，初步懷疑是晶元損壞；把好的pcb板的晶元與測試不過的pcb板的g模無線晶元對換，發現問題跟隨晶元走，好的pcb板evm只有-25db左右，而壞的pcb板對換晶元後，evm變好為-34db左右，測試ok，故確定是2.4g的無線晶元損壞導致evm不過問題；
2.4g無線晶元transceiver損壞的可能原因：
①射頻設計缺陷導致；
②基帶電路設計缺陷導致；
③工藝生產esd防護不當導致；
④晶元來料不良導致
對比demo板以及之前的老產品，未發現有設計上異同點，並且正常的板子射頻各項指標都ok，故射頻問題初步排除；接下來排查基帶電源設計上的問題，由於transceiver晶元只是損傷並未完全損壞，只是導致射頻效能惡化，故重點排查與射頻相關的電源情況，由於本次transceiver晶元損傷不是老化出現的，而是剛生產完畢，進行系統測試就出現損傷，並且當產品正常穩定工作並老化，未出現問題，猜測可能是系統上電瞬間，電源不正常導致晶元概率性損傷，故用示波器測量射頻各路電源，發現外接ldo 1.2v為射頻供電的
並查集在實際問題中的應用
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關鍵路徑在演算法題中的應用
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