jtag（joint test action group），聯合測試行動組)是一種國際標準測試協議（ieee1149.1相容）。主要功能兩種：一是用於測試晶元，二是用於debug，對各類晶元以及外圍裝置進行除錯。此處介紹debug功能。
jtag的基本原理是在器件內部定義乙個tap（test access port測試訪問口）通過專用的jtag測試工具對內部節點測試。
邊界掃瞄技術——在晶元的輸入、輸出引腳附近增加乙個移位暫存器單元，邊界掃瞄暫存器。
晶元除錯狀態：邊界掃瞄暫存器將晶元與外圍的io口隔離，實現對晶元輸入、輸出訊號的控制和觀測。通過邊界掃瞄暫存器單元將訊號載入至晶元輸入引腳，捕獲輸出引腳訊號。
晶元正常執行：邊界掃瞄暫存器對晶元來說透明，晶元正常執行不受影響。
tap控制器控制tap訪問晶元提供的資料暫存器dr和指令暫存器ir。
系統上電後，tap controller首先進入test-logic-reset狀態，然後依次進入run-test／idle、select-dr- scan、select-ir-scan、capture-ir、shift-ir、exitl-ir、update-ir狀態，最後回到run- test／idle狀態。在此過程中，狀態的轉移都是通過tck訊號進行驅動(上公升沿)，通過tms訊號對tap的狀態進行選擇轉換的。其中，在 capture-ir狀態下，乙個特定的邏輯序列被載入到指令暫存器中；在shift-ir狀態下，可以將一條特定的指令送到指令暫存器中；在 update-ir狀態下，剛才輸入到指令暫存器中的指令將用來更新指令暫存器。最後，系統又回到run-test／idle狀態，指令生效，完成對指令 暫存器的訪問。當系統又返回到run-test／idle狀態後，根據前面指令暫存器的內容選定所需要的資料暫存器，開始執行對資料暫存器的工作。其基本 原理與指令其存器的訪問完全相同，依次為select-dr-scan、capture-dr、shift-d、exit1-dr、update-dr， 最後回到run-test／idle狀態。通過tdi和tdo，就可以將新的資料載入到資料暫存器中。經過乙個週期後，就可以捕獲資料暫存器中的資料，完成對與資料暫存器的每個暫存器單元相連的晶元引腳的資料更新，也完成了對資料暫存器的訪問。
jtag引腳定義
tck——測試時鐘、程式設計時鐘輸入
tdi——測試資料、程式設計資料輸入，資料通過tdi從jtag口輸入
tdo——測試資料、程式設計資料輸出，資料通過tdo從jtag口輸出
tms——測試模式選擇、改變tap內部的狀態機的狀態
trst——復位訊號，可以用來對tap controller進行復位(初始化)。這個訊號介面在ieee 1149.1標準裡並不是強制要求的，因為通過tms也可以對tap controller進行復位
stck——時鐘返回訊號，在ieee 1149.1標準裡非強制要求
dbgrq——目標板上工作狀態的控制訊號。在ieee 1149.1標準裡沒有要求，只是在個別目標板中會有
bit檔案燒錄（debug使用）：在operation雙擊下選擇static ram cell mode。下面operation選擇sram fast program。選擇programming file為 字尾名bit的檔案。
jed檔案燒錄（固化使用）：在operation雙擊，選擇flash programming mode。選擇flash erase，program，verify選擇jed檔案 。
lattice 包的用法
1.library lattice 載入包。dxyplot y x,data d xy的散點圖 xyplot y x z,data d,pch c 1,3,4 如果z 有明確的類別的名字，則顯示類別名字，如果沒有確的那麼顯示組別都是z。注意上面兩張圖分組的異同之處。加上 的才是按照面板進行分組。來乙...
LATTICE 儲存之FIFO的使用
坑，以後填 對於lattice 的 fifo 儲存器分為兩種，見下圖 這兩個的主要區別是乙個後面加dc乙個不加，那這個dc是什麼意思呢？dc這裡是dual clock的意思，也就是雙時鐘的意思，那意思就很明顯了，另乙個是單時鐘 更本質的可以說單時鐘是同步fifo的意思，雙時鐘是非同步fifo的意思。...
JTAG詳細的含義
jtag是英文 joint test action group 聯合測試行為組織 的詞頭字母的簡寫，該組織成立於1985 年，是由幾家主要的電子製造商發起制訂的pcb 和ic 測試標準。jtag 建議於1990 年被ieee 批准為ieee1149.1 1990 測試訪問埠和邊界掃瞄結構標準。該標準...