jtag是英文「joint test action group（聯合測試行為組織）」的詞頭字母的簡寫，該組織成立於1985 年，是由幾家主要的電子製造商發起制訂的pcb 和ic 測試標準。jtag 建議於1990 年被ieee 批准為ieee1149.1-1990 測試訪問埠和邊界掃瞄結構標準。該標準規定了進行邊界掃瞄所需要的硬體和軟體。自從1990 年批准後，ieee 分別於1993 年和1995 年對該標準作了補充，形成了現在使用的ieee1149.1a-1993 和ieee1149.1b-1994。jtag 主要應用於：電路的邊界掃瞄測試和可程式設計晶元的在系統程式設計。
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國際標準測試協議
jtag是一種所謂的邊界掃瞄技術。
邊掃瞄測試是在20世紀80年代中期做為解決pcb物理訪問問題的jtag介面發展起來的，這樣的問題是新的封裝技術導致電路板裝配日益擁擠所產生的。邊界掃瞄在晶元級層次上嵌入測試電路，以形成全面的電路板級測試協議。利用邊界掃瞄－－自2023年以來的行業標準ieee 1149.1－－您甚至能夠對最複雜的裝配進行測試、除錯和在系統裝置程式設計，並且診斷出硬體問題。
邊界掃瞄的優先：
通過提供對掃瞄鏈的io的訪問，可以消除或極大地減少對電路板上物理測試點的需要，這就會顯著節約成本，因為電路板布局更簡單、測試夾具更廉價、電路中的測試系統耗時更少、標準介面的使用增加、上市時間更快。除了可以進行電路板測試之外，邊界掃瞄允許在pcb貼片之後，在電路板上對幾乎所有型別的cpld和快閃儲存器進行程式設計，無論尺寸或封裝型別如何。在系統程式設計可通過降低裝置處理、簡化庫存管理和在電路板生產線上整合程式設計步驟來節約成本並提高產量。
邊界掃瞄原理：
ieee 1149.1 標準規定了乙個四線序列介面（第五條線是可選的），該介面稱作測試訪問埠（tap），用於訪問複雜的積體電路（ic），例如微處理器、dsp、asic和cpld。除了tap之外，混合ic也包含移位暫存器和狀態機，以執行邊界掃瞄功能。在tdi（測試資料輸入）引線上輸入到晶元中的資料儲存在指令暫存器中或乙個資料暫存器中。序列資料從tdo（測試資料輸出）引線上離開晶元。邊界掃瞄邏輯由tck（測試時鐘）上的訊號計時，而且tms（測試模式選擇）訊號驅動tap控制器的狀態。trst（測試重置）是可選項。在pcb上可序列互連多個可相容掃瞄功能的ic，形成乙個或多個掃瞄鏈，每乙個鏈都由其自己的tap。每乙個掃瞄鏈提供電氣訪問，從序列tap介面到作為鏈的一部分的每乙個ic上的每乙個引線。在正常的操作過程中，ic執行其預定功能，就好像邊界掃瞄電路不存在。但是，當為了進行測試或在系統程式設計而啟用裝置的掃瞄邏輯時，資料可以傳送到ic中，並且使用序列介面從ic中讀取出來。這樣資料可以用來啟用裝置核心，將訊號從裝置引線傳送到pcb上，讀出pcb的輸入引線並讀出裝置輸出。
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簡單jtag電纜
關於簡單jtag電纜
目前有各種各樣簡單jtag電纜，其實只是乙個電平轉換電路，同時還起到保護作用。jtag的邏輯則由執行在pc上的軟體實現，所以在理論上，任何乙個簡單jtag電纜，都可以支援各種應用軟體，如debug等。可以使用同乙個jtag電纜寫xilinx cpld，axd/adw除錯程式。關鍵再於軟體的支援，大多數軟體都不提供設定功能，因而只能支援某種jtag電纜。
關於簡單jtag電纜的速度**：
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