到了這個時候, 真想破口大罵了. 為什麼開發模式是如此的粗放? 每個版本之間的特性傳承體現在**? 上乙個版本所犯的錯誤為什麼在這個版本又要栽跟頭撞得頭破血流?
為什麼一撥又一撥的兄弟那麼辛苦?
根據目前的開發狀態, 本人有幾個疑惑:
1) 特性的技術承傳是怎麼體現的? 比如ic特性. 在r14包括r15版本, ic特性所涉及的方案性的問題不斷被發現不斷被糾正, 那麼這些被發現和糾正的東西在下乙個版本是如何體現的? 比如老版本有乙個方案問題, f板所在的資源組集中對消單板只能存在一塊, 此資源組不能存在既有板間ic又有板內ic的場景, 否則會存在slc小區. 但是, 這個問題在r15.1依然在重複上演. 還有多少個老版本的方案性的問題, 在新的版本開發上沒有對齊? ic涉及的通道/時延的東西很多, 本身十分複雜, 在小區模型變動如此之大的情況, 不採取相關措施, 質量堪憂.
2) 如何實施真正意義上的one track方案? 如果把one track僅僅理解為乙個主幹而非以前的狂拉分支, 那麼也認識的太膚淺了. 如果one track是一條渠道的話, 那麼它應該是乾淨清澈地流淌著溪水, 需要時按需所取就行. 如果這條渠道流的都是渾濁的,臭氣熏天的髒水, 即使這條渠道修得再漂亮, 也只會讓人掩鼻而過. 此時的one track也不過是乙個漂亮的口號罷了.
3) dt(bug testing)是如何實施的? 在bbit的第一周, 基本上處於版本不可用的狀態. 為什麼? 因為出現各種小區建不起來的現象.導致測試無法往後執行.這就涉及到乙個問題, dt該如何跟進? 我了解的情況是, sig和ul的**在開發後從來沒有上過單板跑過. 個人的建議是, 是否可以像冒煙測試一樣, 測試人員參與之前, 自己的最基本用例要確保是能夠通過的? 哪怕是乙個用例, 第乙個用例其實要測成功, 是非常不容易的, 包括小區建立不起來/**無法打通/串列埠有滿屏滿屏的assert列印, 都是能夠掃除一些很低階的bug的.
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