晶元型號：stm32l051c8（其它型號請參考datasheet，僅供參考）
使用adc採集電壓時若使用外部參考電壓，如果外部電壓變化，且低於正常ldo工作電壓時，輸出的電壓將發生改變，導致基準電壓改變而導致adc電壓出現偏差，因此在該晶元上檢視datasheet後得知，廠家已經為我們考慮到這種情況，並在出廠時將類似於基準電壓的值寫在flash中。該值的環境：25°c， vdd = 3v時的情況，可以直接位址訪問讀取，我讀取了兩個晶元的值，大概在1670值左右。通過該值我們就有乙個標準。
接下來看參考手冊中對該款晶元的介紹，
1、adc in17內部參考電壓原始資料，也就是下圖公式中的 vrefint_data
2、讀取電池電量連線通道原始資料,也就是下圖公式中的adc_datax值，我在板子上接的是adc in4
下圖的計算公式就是利用內部參考的校準電壓值和實際讀取的內部參考電壓值作乙個線性關係，將這個斜率對應到我們需要測量的通道值。
vrefint_cal = *(__io uint16_t *)(0x1ff80078);
full_scale：根據我們設定的adc解析度而定，12位adc解析度值：2^12 - 1 = 4096 - 1.
實測資料：
vrefint_cal：1669 vrefint_data： 1716
adc_datax： 2046 full_scale： 4095
根據公式計算到電壓值： vol = 3 * 1669 * 2046 / (1716 * 4095) = 1.4578
電池電量： 1.4578 * 2 = 2.915 v
用萬用表測量的電壓值：1.44~ 1.45v波動， 校驗成功。
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