? 基礎練習 晶元測試 ?
時間限制：1.0s ? 記憶體限制：512.0mb
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問題描述
有n（2≤n≤20）塊晶元，有好有壞，已知好晶元比壞晶元多。
每個晶元都能用來測試其他晶元。用好晶元測試其他晶元時，能正確給出被測試晶元是好還是壞。而用壞晶元測試其他晶元時，會隨機給出好或是壞的測試結果（即此結果與被測試晶元實際的好壞無關）。
給出所有晶元的測試結果，問哪些晶元是好晶元。
輸入格式
輸入資料第一行為乙個整數n，表示晶元個數。
第二行到第n+1行為n*n的一張表，每行n個資料。表中的每個資料為0或1，在這n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的資料表示用第i塊晶元測試第j塊晶元時得到的測試結果，1表示好，0表示壞，i=j時一律為1（並不表示該晶元對本身的測試結果。晶元不能對本 身進行測試）。
輸出格式
按從小到大的順序輸出所有好晶元的編號
樣例輸入 3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
樣例輸出
1 3
藍橋杯-基礎訓練
簡單dfs一遍就好，在驗證是否符合題意： 好的測試好的等於好的 好的測試壞的等於壞的
#include
#include
#include
#include
#include
#include
#include
#include
using namespace std;
int que[25][25];
int n;
int ans[25];
bool flag = false;
bool fun()else
}else}}
} }}return true;
}void dfs(int x)
if(x==n)
}if(cnt>(n/2) && fun() && flag ==false)else
cnt--;}}
flag = true;
}return;
}dfs(x+1);
ans[x] = 1;
dfs(x+1);
ans[x] = 0;
}int main()
}dfs(0);
}return 0;
}
qa 晶元測試 晶元測試術語介紹CP FT WAT
cp ft wat cp是把壞的die挑出來，可以減少封裝和測試的成本。可以更直接的知道wafer 的良率。ft是把壞的chip挑出來 檢驗封裝的良率。現在對於一般的wafer工藝，很多公司多把cp給省了 減少成本。cp對整片wafer的每個die來測試 而ft則對封裝好的chip來測試。cp pa...
13 晶元測試
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Java 晶元測試
問題描述 有n 2 n 20 塊晶元，有好有壞，已知好晶元比壞晶元多。每個晶元都能用來測試其他晶元。用好晶元測試其他晶元時，能正確給出被測試晶元是好還是壞。而用壞晶元測試其他晶元時，會隨機給出好或是壞的測試結果 即此結果與被測試晶元實際的好壞無關 給出所有晶元的測試結果，問哪些晶元是好晶元。輸入格式...