問題描述
有n（2≤n≤20）塊晶元，有好有壞，已知好晶元比壞晶元多。
每個晶元都能用來測試其他晶元。用好晶元測試其他晶元時，能正確給出被測試晶元是好還是壞。而用壞晶元測試其他晶元時，會隨機給出好或是壞的測試結果（即此結果與被測試晶元實際的好壞無關）。
給出所有晶元的測試結果，問哪些晶元是好晶元。
輸入格式
輸入資料第一行為乙個整數n，表示晶元個數。
第二行到第n+1行為n*n的一張表，每行n個資料。表中的每個資料為0或1，在這n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的資料表示用第i塊晶元測試第j塊晶元時得到的測試結果，1表示好，0表示壞，i=j時一律為1（並不表示該晶元對本身的測試結果。晶元不能對本身進行測試）。
輸出格式
按從小到大的順序輸出所有好晶元的編號
樣例輸入
31 0 1
0 1 0
1 0 1
樣例輸出
1 3**：
public class test }}
for(int i=0;i}
}}
qa 晶元測試 晶元測試術語介紹CP FT WAT
cp ft wat cp是把壞的die挑出來，可以減少封裝和測試的成本。可以更直接的知道wafer 的良率。ft是把壞的chip挑出來 檢驗封裝的良率。現在對於一般的wafer工藝，很多公司多把cp給省了 減少成本。cp對整片wafer的每個die來測試 而ft則對封裝好的chip來測試。cp pa...
13 晶元測試
基礎練習 晶元測試 時間限制 1.0s 記憶體限制 512.0mb 錦囊1找出統計規律。錦囊2每列求和，總數大於一半為真，少於一半為假。問題描述 有n 2 n 20 塊晶元，有好有壞，已知好晶元比壞晶元多。每個晶元都能用來測試其他晶元。用好晶元測試其他晶元時，能正確給出被測試晶元是好還是壞。而用壞晶...
296 晶元測試
題目描述 有n塊晶元，有好有壞，已知好晶元比壞晶元多。每個晶元都能用來測試其他晶元。用好晶元測試其他晶元時，能正確給出被測試晶元是好還是壞。而用壞晶元測試其他晶元時，會隨機給出好或是壞的測試結果 即此結果與被測試晶元實際的好壞無關 給出所有晶元的測試結果，問哪些晶元是好晶元。輸入描述 輸入資料第一行...