電子產品在ce認證中，經常需要過輻射干擾（<1ghz）測試，常遇到某個頻點上輻射(dbuv/m)超標，或者餘量不足的情況：
1.如果是低頻超標，一般是輸入電源輻射出來的，確保使用的dc介面卡合格，再進行pcba板的電源輸入處理，通常是線上串磁珠，電容到地等處理。
2.如果是高頻超標，一般是某個時鐘(系統時鐘，晶振時鐘，外圍晶元時鐘腳)的倍頻輻射，先確定是哪個晶元洩露，再看此晶元是否存在有引腳直接引飛線出來（掃燈引腳、adkey引腳等），如果有，要預留磁珠，電容。也有可能是供電電源線輻射出來，也要做相應處理。
3.如果是有一段高峰超標，即可能是某些時鐘可變的晶元輻射出來的（sd卡時鐘腳），首先確認sd卡外殼正確接地，電源處理，再進行時鐘腳和資料腳的處理（一般不建議強推操作）。
對於靜電測試，先確認需要接觸式打多少v（一般4kv，巴西6kv），空氣打多少v（一般8kv）。
1.pcb要預留有esd元件焊盤，所有留孔，與外界通訊的埠都要進行相應處理。
2.pcb布局和佈線，要鋪銅處理好，讓靜電安全順暢回地。
PCB設計中的SDRAM輻射干擾對策
某些使用外接sdram的stm32應用客戶反映其產品在emc測試中，存在由於sdram訊號導致輻射干擾超標的問題。在終端產品中如果不能用機殼遮蔽輻射干擾，那麼這類問題往往需要通過修改sdram訊號的pcb設計來解決。這裡針對sdram的pcb應用設計中如何改善輻射干擾問題做個概述，拋磚引玉，以供參考...
工頻干擾頻譜測量 EMC預認證測量的哀與愁
掌握上市時機 time to market 是全球化超競爭時代的競爭優勢之一，而產品上市之前必須通過的技術法規及相關認證，更是掌握上市時機的關鍵。為避免電子產品產生的電磁訊號對其他產品造成干擾，並確保電子產品不被其他產品的電磁波干擾，電磁相容emc emi電磁干擾度 ems電磁抗擾度 的認證是各國普...
工頻干擾頻譜測量 電磁輻射測量儀器
電磁輻射測量儀器 電磁輻射測量按測量場所分為作業環境 特定公眾暴露環境 一般公眾暴露環境測量。按測量引數分為電場強度 磁場強度和電磁場通量密度等的測量。對於不同的測量應選用不同型別的儀器，以期獲得最佳的測量效果。測量儀器根據測量目的分為非選頻式寬頻測量儀和選頻式輻射測量儀。非選頻式寬頻監測儀器 所謂...