在半導體ft測試，重力式ic分類機通過重力的作用把ic從loader傳輸到分類機構，再到測試機構，最後根據測試結果分bin到相應的tube管。
在這個過程中用到很多的位置控制氣缸，位置偵測sensor，而且在最後需要通過伺服馬達很速度進行分bin。
所以該系統要求做到:
1. 大量的io控制
2. 需要構架伺服系統
3. 不同位置的條件配合
4. 控制時間精確
整兒rtx控制構架
首先, 使用rtx申請共有記憶體，來儲存狀態供ui和控制程式用。
rtcreatesharememory (dword flprotect, dword maximumsizehigh, dword maximumsizelow, lpctstr lpname, void ** location)
建立mutex來進行使用權管理
rtcreatemutex(lpsecurity_attributes lpmutexattributes, bool binitialowner, lpctstr lpname)
dword rtapi rtwaitforsingleobject(handle hhandle, dword dwmilliseconds);
...
對於io控制函式
rtwriteportuchar / rtreadportuchar 函式等
時間精準控制
rtsleep(milisecond);
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