（joint test action group）是一種國際標準測試協議（ieee 1149.1相容），主要用於晶元內部測試。jtag的主要功能有兩種：一類用於測試晶元的電氣特性，檢測晶元是否有問題；另一類用於debug，對各類晶元以及 其外圍裝置進行除錯。現在多數的高階器件都支援jtag協議，如dsp、fpga器件等。本質上是一種全雙工同步序列通訊介面。
1、jtag定義最初的目的是為了邊界掃瞄 : 其基本思想是在靠近晶元的輸入輸出管腳上增加乙個移位暫存器單元。因為這些移位暫存器單 元都分布在晶元的邊界上（周圍），所以被稱為邊界掃瞄暫存器（boundary-scan register cell）。 當晶元處於除錯狀態的時候，這些邊界掃瞄暫存器可以將晶元和外圍的輸入輸出隔離開來。 通過這些邊界掃瞄暫存器單元，可以實現對晶元輸入輸出訊號的觀察和控制。對於晶元的輸入管腳，可以通過與之相連的邊界掃瞄暫存器單元把訊號（資料）載入倒該管腳中去；對於晶元的輸出管腳，也可以通過與之相連的邊界掃瞄暫存器「捕獲」（capture）該管腳上的 輸出訊號。晶元輸入輸出管腳上的邊界掃瞄（移位）暫存器單元可以相互連線起來，在晶元的周圍形成乙個邊界掃瞄鏈（boundary-scan chain）。對邊界掃瞄鏈的控制主要是通過tap（test access port）controller來完成的。
2、tap 是乙個通用的埠，通過 tap 可以訪問晶元提供的所有資料暫存器（dr）和指令暫存器（ir）。對整個 tap 的控制是通過 tap controller 來完成的。tap 總共包括 5 個訊號介面 tck、tms、tdi、tdo 和 trst ：其中 4 個是輸入訊號介面和另外 1 個是輸出訊號介面。
3、通過 tap 介面，對資料暫存器（dr）進行訪問的一般過程
（1）通過指令暫存器（ir），選定乙個需要訪問的資料暫存器；
（2） 把選定的資料暫存器連線到 tdi 和 tdo 之間；
（3）由 tck 驅動，通過 tdi，把需要的資料輸入到選定的資料暫存器當中去；同時把選定的資料暫存器中的資料通過 tdo 讀出來。
1、j-link硬體偵錯程式和stm32開發板上的jtag介面。
2、j-link是segger公司為支援**arm核心晶元推出的jtag**器。
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