問題描述
有n(2≤n≤20)塊晶元,有好有壞,已知好晶元比壞晶元多。
每個晶元都能用來測試其他晶元。用好晶元測試其他晶元時,能正確給出被測試晶元是好還是壞。而用壞晶元測試其他晶元時,會隨機給出好或是壞的測試結果(即此結果與被測試晶元實際的好壞無關)。
給出所有晶元的測試結果,問哪些晶元是好晶元。
輸入格式
輸入資料第一行為乙個整數n,表示晶元個數。
第二行到第n+1行為n*n的一張表,每行n個資料。表中的每個資料為0或1,在這n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的資料表示用第i塊晶元測試第j塊晶元時得到的測試結果,1表示好,0表示壞,i=j時一律為1(並不表示該晶元對本身的測試結果。晶元不能對本身進行測試)。
輸出格式
按從小到大的順序輸出所有好晶元的編號
樣例輸入
31 0 1
0 1 0
1 0 1
樣例輸出
1 3思路 題目告訴我們超過一半是好的, 我們只需要看每個晶元,別的晶元對他的檢測,如果0比1多那他肯定是壞的。
#include#includeusing namespace std;
int a[30][30];//我以後一定開全域性變數,20分被扣了
bool st[30];
int n;
int main()
for(int j=1;j<=n;j++)
if(ct>=(n+1)/2) st[j]=1;//如果超過半數 1 0 0 0 1 1
}for
(int i=1;i<=n;i++)
if(!st[i])
cout << i << " ";
return 0;
}
藍橋杯 基礎練習VIP 晶元測試 思維
題目描述 有n塊晶元,有好有壞,已知好晶元比壞晶元多。每個晶元都能用來測試其他晶元。用好晶元測試其他晶元時,能正確給出被測試晶元是好還是壞。而用壞晶元測試其他晶元時,會隨機給出好或是壞的測試結果 即此結果與被測試晶元實際的好壞無關 給出所有晶元的測試結果,問哪些晶元是好晶元。輸入輸入資料第一行為乙個...
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cp ft wat cp是把壞的die挑出來,可以減少封裝和測試的成本。可以更直接的知道wafer 的良率。ft是把壞的chip挑出來 檢驗封裝的良率。現在對於一般的wafer工藝,很多公司多把cp給省了 減少成本。cp對整片wafer的每個die來測試 而ft則對封裝好的chip來測試。cp pa...
13 晶元測試
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