參考資料：
jtag
基礎知識
嵌入式軟體除錯技術第2
章羅克露
主編jtag
深入理解
test technology standards committee of the ieee computer society. ieee standard test access port and boundary-scan architecture. 2001 基於
jtag
的arm
除錯技術
arm jtag
除錯原理
twentyone
編寫基於
jtag
的arm
高階arm7tdmi technical reference manual[ddi0210b].pdf
arm11technicalrefmanual.pdf
tips
：1.trst
為什麼是可選訊號呢？
因為通過
tms也可以復位測試邏輯
2.為什麼在
tms訊號上加上拉電阻？
ieee 1149.1
規定，在
tms上沒有輸入訊號驅動的情況下，測試邏輯工作應該和在
tms上送入高電平時是一樣的，這樣
tap控制器將會被強制進入
test-logic-reset
狀態。3.tdi tms
在上公升沿取樣，
tdo在下降沿取樣？
為了避免在進行測試的時候存在競爭條件。
4.jtag
除錯介面由
tap控制器、指令暫存器、資料暫存器組
3部分構成，而
tap控制器就是控制測試邏輯對指令(資料
)暫存器進行操作的。
5.不管
tap控制器的原始狀態是什麼，只要
tms保持高電平至少5個
tck上公升沿的時間以上，就將使得
tap控制器進入
test-logic-reset
狀態。只要
tms為高電平，就將使控制器保持在這一狀態。
6.每個支援
jtag
除錯的晶元必須至少包含乙個指令暫存器。對於特定的某款晶元而言，晶元生產廠商一般都會在
ieee1149.1
標準的基礎山擴充一些私有的指令暫存器和資料暫存器，以方便在開發過程中進行功能測試和診斷除錯。
7.jtag
標準允許不同的指令共享相同的二進位制編碼，通過
tap控制器的當前狀態來區分指令的行為。他們是
opcode
相同的不同指令，如
sample
和preload 8.
jtag
公共指令（
public
）以及私有指令（
private
）通過自檢對元件進行測試的能力
能依靠邊界掃瞄暫存器對板級互聯進行測試的能力
9.必須包含的共有指令：
bypass
sample
preload
extest
idcode
（有裝置
id暫存器的情況）
10.bypass
：二進位制編碼所有位都為1
其指令的目的是將
bypass
暫存器鏈入該元件自身的
tdi和
tdo之間，這樣就可以使測試資料能夠快速地從掃瞄鏈中通過。
11.sample
：將邊界掃瞄暫存器序列地鏈入
tdi和
tdo之間。
12.preload
：和sample
類似，但是資料流的方向是反的。
s是將元件核心邏輯或外部引腳上的訊號狀態載入到邊界掃瞄鏈中，而
preload
指令是將邊界掃瞄鏈中的資料值送入核心邏輯或外部引腳。
13.extest
：用於板級互聯性測試。
14.裝置
id暫存器包括3部分
廠商id
，11bits
壓縮碼零件編號
16bits
編碼版本號
4bits
其核心就是
test access port controller
（測試訪問埠控制器）的內部這個有限狀態機見下圖：
下面這段**來自於
jflash-s3c2410
，jtag_reset
函式的原理見
tip5
，jtag_readid
函式對應上面這個狀態機很好理解。
void jtag_reset(void)
void jtag_readid(void)
jtag_set(tdi_h|tms_h|tck_l);jtag_delay();
jtag_set(tdi_h|tms_h|tck_h);jtag_delay(); //exit1_dr
id[i]=(char)jtag_get_tdo();
jtag_set(tdi_h|tms_h|tck_l);jtag_delay();
jtag_set(tdi_h|tms_h|tck_h);jtag_delay(); // update_dr
jtag_set(tdi_h|tms_l|tck_l);jtag_delay(); // why 3 times?
jtag_set(tdi_h|tms_l|tck_h);jtag_delay(); // run-test/idle
jtag_set(tdi_h|tms_l|tck_l);jtag_delay();
jtag_set(tdi_h|tms_l|tck_h);jtag_delay(); // run-test/idle
jtag_set(tdi_h|tms_l|tck_l);jtag_delay();
jtag_set(tdi_h|tms_l|tck_h);jtag_delay(); // run-test/idle
id32=0;
for(i=31 ;i>=0 ;i--)
switch(id32) }
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