連續2周去了上海advantest除錯量產晶元的功能測試pattern。
交通：打的在田林路，古美路口下。
這次我用perl直接生成asc格式的pattern，除錯起來非常方便。有需要修改的地方直接可以修改。
對除錯的時間不宜估計得太樂觀。
11/21，修改perl，使之符合asc格式
11/22，將i2c配置和ts比較2個檔案合併
11/23，使用match方法比較ts頭
11/24，使用比較i2c高位的方法，確定最大值比較。沒有辦法選出0值
11/28，除錯ate讀結果，可以在pattern結束後讀出i2c暫存器的值
11/29，除錯鎖定問題，未果。
11/30，去處match方法，使用比較後處理，使得4個site可以同時工作。
12/1，選擇了乙個時間窗，對所以好片與壞片都測試一遍，得到統計資料。
WiFi晶元除錯
insmod ko wpa passphrase tp link d87a wifi.conf wangsuna123 wpa supplicant b c wifi.conf i wlan0 出現資訊 successfully initialized wpa supplicant rfkill w...
usb晶元除錯經驗
記錄一下除錯usb有關的晶元的一些經驗。1.有i2c 的晶元。一般有 i2c的位址選擇。檢查位址選擇是否正確，位址是多少。scl 和sda 上面是否有上拉電阻。晶元的位址是幾位的。i2c 的時鐘頻率也是必須設定的乙個方面。工作速率 一般有100k和400k兩種 並且裡面暫存器一般為乙個 byte.i...
qa 晶元測試 晶元測試術語介紹CP FT WAT
cp ft wat cp是把壞的die挑出來，可以減少封裝和測試的成本。可以更直接的知道wafer 的良率。ft是把壞的chip挑出來 檢驗封裝的良率。現在對於一般的wafer工藝，很多公司多把cp給省了 減少成本。cp對整片wafer的每個die來測試 而ft則對封裝好的chip來測試。cp pa...