CMOS邏輯電路

2021-04-21 06:39:16 字數 3534 閱讀 2476

cmos邏輯電路

cmos是單詞的首字母縮寫,代表互補的金屬氧化物

半導體(complementary metal-oxide-semiconductor),它指的是一種特殊型別的電子積體電路(ic)。積體電路是一塊微小的矽片,它包含有幾百萬個電子元件。術語ic隱含的含義是將多個單獨的積體電路整合到乙個電路中,產生乙個十分緊湊的器件。在通常的術語中,積體電路通常稱為晶元,而為計算機應用設計的ic稱為計算機晶元。

•邏輯函式很容易用cmos電路來實現。

•cmos允許極高的邏輯整合密度。其含義就是邏輯電路可以做得非常小,可以製造在極小的面積上。

•用於製造矽片cmos晶元的工藝已經是眾所周知,並且cmos晶元的製造和銷售**十分合理。

這些特徵及其它特徵都為cmos成為製造ic的主要工藝提供了基礎。

cmos可以作為學習在電子網路中如何實現邏輯功能的工具。cmos它允許我們用簡單的概念和模型來構造邏輯電路。而理解這些概念只需要基本的電子學概念。

cmos邏輯閘電路的系列及主要引數:

1.cmos邏輯閘電路的系列

cmos積體電路誕生於20世紀60年代末,經過製造工藝的不斷改進,在應用的廣度上已與ttl平分秋色,它的技術引數從總體上說,已經達到或接近ttl的水平,其中功耗、雜訊容限、扇出係數等引數優於ttl。cmos積體電路主要有以下幾個系列。

(1)基本的cmos——4000系列。

這是早期的cmos整合邏輯門產品,工作電源電壓範圍為3~18v,由於具有功耗低、雜訊容限大、扇出係數大等優點,已得到普遍使用。缺點是工作速度較低,平均傳輸延遲時間為幾十ns,最高工作頻率小於5mhz。

(2)高速的cmos——hc(hct)系列。

該系列電路主要從製造工藝上作了改進,使其大大提高了工作速度,平均傳輸延遲時間小於10ns,最高工作頻率可達50mhz。hc系列的電源電壓範圍為2~6v。hct系列的主要特點是與ttl器件電壓相容,它的電源電壓範圍為4.5~5.5v。它的輸入電壓引數為vih(min)=2.0v;vil(max)=0.8v,與ttl完全相同。另外,74hc/hct系列與74ls系列的產品,只要最後3位數字相同,則兩種器件的邏輯功能、外形尺寸,引腳排列順序也完全相同,這樣就為以cmos產品代替ttl產品提供了方便。

(3)先進的cmos——ac(act)系列

該系列的工作頻率得到了進一步的提高,同時保持了cmos超低功耗的特點。其中act系列與ttl器件電壓相容,電源電壓範圍為4.5~5.5v。ac系列的電源電壓範圍為1.5~5.5v。ac(act)系列的邏輯功能、引腳排列順序等都與同型號的hc(hct)系列完全相同。

2.cmos邏輯閘電路的主要引數

cmos閘電路主要引數的定義同ttl電路,下面主要說明cmos電路主要引數的特點。

(1)輸出高電平voh與輸出低電平vol。cmos閘電路voh的理論值為電源電壓vdd,voh(min)=0.9vdd;vol的理論值為0v,vol(max)=0.01vdd。所以cmos閘電路的邏輯擺幅(即高低電平之差)較大,接近電源電壓vdd值。

(2)閾值電壓vth。從cmos非門電壓傳輸特性曲線中看出,輸出高低電平的過渡區很陡,閾值電壓vth約為vdd/2。

(3)抗干擾容限。cmos非門的關門電平voff為0.45vdd,開門電平von為0.55vdd。因此,其高、低電平雜訊容限均達0.45vdd。其他cmos閘電路的雜訊容限一般也大於0.3vdd,電源電壓vdd越大,其抗干擾能力越強。

(4)傳輸延遲與功耗。cmos電路的功耗很小,一般小於1 mw/門,但傳輸延遲較大,一般為幾十ns/門,且與電源電壓有關,電源電壓越高,cmos電路的傳輸延遲越小,功耗越大。前面提到74hc高速cmos系列的工作速度己與ttl系列相當。

(5)扇出係數。因cmos電路有極高的輸入阻抗,故其扇出係數很大,一般額定扇出係數可達50。但必須指出的是,扇出係數是指驅動cmos電路的個數,若就灌電流負載能力和拉電流負載能力而言,cmos電路遠遠低於ttl電路。

cmos邏輯閘電路是在ttl電路問世之後 ,所開發出的第二種廣泛應用的數字整合器件,從發展趨勢來看,由於製造工藝的改進,cmos電路的效能有可能超越ttl而成為佔主導地位的邏輯器件 。cmos電路的工作速度可與ttl相比較,而它的功耗和抗干擾能力則遠優於ttl。此外,幾乎所有的超大規模儲存器件 ,以及pld器件都採用cmos藝製造,且費用較低。 早期生產的cmos閘電路為4000系列 ,隨後發展為4000b系列。當前與ttl相容的cmo器件如74hct系列等可與ttl器件交換使用。

mos管主要引數:1.開啟電壓vt

•開啟電壓(又稱閾值電壓):使得源極s和漏極d之間開始形成導電溝道所需的柵極電壓;•標準的n溝道mos管,vt約為3~6v;•通過工藝上的改進,可以使mos管的vt值降到2~3v。

2. 直流輸入電阻rgs

•即在柵源極之間加的電壓與柵極電流之比

•這一特性有時以流過柵極的柵流表示

•mos管的rgs可以很容易地超過1010ω。

3. 漏源擊穿電壓bvds

•在vgs=0(增強型)的條件下 ,在增加漏源電壓過程中使id開始劇增時的vds稱為漏源擊穿電壓bvds

•id劇增的原因有下列兩個方面:

(1)漏極附近耗盡層的雪崩擊穿

(2)漏源極間的穿通擊穿

•有些mos管中,其溝道長度較短,不斷增加vds會使漏區的耗盡層一直擴充套件到源區,使溝道長度為零,即產生漏源間的穿通,穿通後源區中的多數載流子,將直接受耗盡層電場的吸引,到達漏區,產生大的id

4. 柵源擊穿電壓bvgs

•在增加柵源電壓過程中,使柵極電流ig由零開始劇增時的vgs,稱為柵源擊穿電壓bvgs。

5. 低頻跨導gm

•在vds為某一固定數值的條件下 ,漏極電流的微變數和引起這個變化的柵源電壓微變數之比稱為跨導

•gm反映了柵源電壓對漏極電流的控制能力

•是表徵mos管放大能力的乙個重要引數

•一般在十分之幾至幾ma/v的範圍內

6. 導通電阻ron

•導通電阻ron說明了vds對id的影響 ,是漏極特性某一點切線的斜率的倒數

•在飽和區,id幾乎不隨vds改變,ron的數值很大 ,一般在幾十千歐到幾百千歐之間

•由於在數位電路中 ,mos管導通時經常工作在vds=0的狀態下,所以這時的導通電阻ron可用原點的ron來近似

•對一般的mos管而言,ron的數值在幾百歐以內

7. 極間電容

•三個電極之間都存在著極間電容:柵源電容cgs 、柵漏電容cgd和漏源電容cds

•cgs和cgd約為1~3pf

•cds約在0.1~1pf之間

8. 低頻雜訊係數nf

•雜訊是由管子內部載流子運動的不規則性所引起的

•由於它的存在,就使乙個放大器即便在沒有訊號輸人時,在輸出端也出現不規則的電壓或電流變化

•雜訊效能的大小通常用雜訊係數nf來表示,它的單位為分貝(db)

•這個數值越小,代表管子所產生的雜訊越小

•低頻雜訊係數是在低頻範圍內測出的雜訊係數

•場效電晶體的雜訊係數約為幾個分貝,它比雙極性三極體的要小

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