電容老化失效測試解決方案

2021-10-12 12:49:41 字數 1161 閱讀 2465

在手機,通訊,以及汽車,航空等領域,對於電路板的壽命和使用溫度均有著特殊的要求,因此對於電容也有著特殊的要求,例如使用壽命,耐高溫程度等;而在眾多的測試中,可靠性測試是必不可少的一項。虹科出品-電容可靠性測試系統,在模擬各種電容極端使用場景,例如高熱高濕和長時間通電的情況下,具有電流通道實時監控和自動斷路保護功能,實現規模可以高達萬片電容的自動化測試。

本文介紹的這個系統主要用於電容老化測試,通過給電容施加電壓,同時施加高溫和高濕的環境,來加速電容的老化,測試電容的可靠性。系統採用模組化設計,支援通道擴充套件,並且針對每乙個電流通道都單獨實現監測和控制斷開的功能,保證系統在其中某乙個電容失效(短路)的時候不影響其他的通道。系統適合進行大規模的測試,一次的測試容量可達幾萬片,因此採用了多電源供電的方式,可選的電源擴充套件規模,能支援多路電源,即在一次測試中可以配置不同的通道供電電壓不同,從而實現了同一次長時間加熱加濕的過程中測試多種規格的電容。極大提公升測試效率。目前該系統已經成功交付,並用於實際的生產應用中,如果您有類似需求,歡迎和我們進一步溝通。[email protected]

系統主要用於電容的老化測試

系統提供高低溫和濕度環境。

系統支援一次測試中提供多組可調電壓值,且每一路電壓可以程式控制輸入到任意一組電容上。

系統可以實現對每一路的電流進行監控,當電容失效電流超限時可報警或者自動斷開該路,不影響其他路的測試。

電流監控可以自定義閾值。

系統配備led面板,試試顯示每一路的失效情況。

系統預留tcp通訊介面,可以實現通過tcp遠端控制和獲取測試資料。

系統可以自動化測試並且生成測試報告。

系統配備高阻儀,可以檢測檢測每一路的電容對應的阻值。

測試通道可擴充套件,能達到一次2000+通道和四萬片以上電容的老化失效測試,極大提公升測試效率。

為了達到靈活的電源配置,我們採用了基於lxi的大規模矩陣,可以實現電源和測試裝置到電容組的任意路由,同時採用了虹科電流監控模組,可以同時監測上千個通路的電流,並且實現閾值的自定義和自動切斷ng短路的被測件,保證系統在有短路的情況下仍然可以正常執行測試。

裝置作用

基於lxi匯流排的大規模矩陣

利用矩陣實現電源和高阻儀的訊號路由

虹科電流監控模組

實時監控每一路的電流,擁有自定義閾值報警和可配置的超過閾值自動切斷的功能

可定製的測試軟體

具備了通訊,自動化測試,報表生成,測試管理,人機介面等功能

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