測試ic保護二極體電壓偏低或偏高（一般為0.2v short和1.2v open）
open/short多為硬體因素影響，需從硬體入手，再對產品進行確認是否異常
1、檢查探針卡扎針是否良好，針卡是否焊線脫落，錯誤等。
2、檢查dut板使用是否錯誤或焊線脫落，錯誤，pin針脫落等。
3、確認接地線是否良好
4、確認晶圓放置方向是否錯誤
5、如有不穩定現象，檢查針卡是否有電容充放電影響或對測試機進行校正
6、確認程式是否設定不當
7、直接用萬用表量測ic i/o pin對電源pin是否有保護二極體
8、排除以上因素需對測試機進行校正確認
9、實際確認產品異常需開異常單確認
1、按測試結果檢查對應的通道是否斷線，虛焊，短路或對應接線表是否焊線錯誤
2、有些產品針卡電容較多，電容的充放電會影響o/s測試，此時需用斷電器切換電容或測試o/s時dps先給乙個小負電壓後dps再給0v測試，同時o/s測試時可以給相應的延時測試
3、有些產品來料已切不能確定缺邊方向，此時需償試不同角度o/s測試情況，也可用萬用表協助確認信道至電源pin保護二極體
4、產品來料可能存在o/s異常，直接用萬用表量測是否有保護二極體確認
5、有些通道在open/short未測試到，但在功能測試時表現出異常，通常如通道open時，功能輸出測試時通道為高阻態，輸出多為h或z
isby通常小於5ua，容易被干擾，以實際量測為準
1、檢查針卡接觸是否良好,針卡是否存在短路的因素及接線干擾
2、檢查電源pin是否有電容影響
3、檢查接地線是否良好和是否開關燈測試
4、檢查isby壞是否其他專案測試通過
5、確認程式量測電流檔位不當或上電延時太短等設定影響
6、確認測試機是否存在電流測試異常
7、萬用表實際量測確認電流值是否異常或用指標表指標有明顯的擺動不穩定現象
8、實際量測值確認超出範圍需開異常單確認
1、isby會因不同測試機的差異或不同的電流量測檔位測值會有不同，isby測試分檔較多
2、isby失效或量測時有些被量測電流檔位嵌位，需用萬用表實際量測實際電流值,類似這種可能晶元上電未有靜態失效，idd，freq，func通常都會有影響。也會有ibsy失效後func正常，但idd會較正常晶元值高約100ua以上。有些被電流量測檔位嵌位,func多數都失效。具體需看isby失效值與規格上限相差，相差越大，其它測試專案影響的可能性也就會越大。
3、針卡等硬體，電容，接地是否良好也會影響lsby測試，針卡我們都有將排線焊到針卡盤上，對針卡進行割線處理，針與針之前用刀片劃過等方法都是為減少測試干擾
4、有些產品isby測試中不穩定，這時最直接的方法就是用指標表外部上電驗證看指標是否在擺動來確認lsby的不穩定是否為產品原因
idd為ic工作時的電流，較ibsy大，以實際量測為準
1、檢查針卡接觸是否良好,針卡是否存在短路的因素及接線干擾
2、檢查電源pin是否有電容影響
3、檢查接地線是否良好
4、檢查idd失效是否其他專案測試通過
5、確認程式量測電流檔位不當或上電延時太短等設定影響
6、確認測試機是否存在電流測試異常
7、萬用表實際量測確認電流值是否異常或用指標表指標有明顯的擺動不穩定現象
8、實際量測值確認超出範圍需開異常單確認
1、idd測試類同lsby會因不同測試機的差異或不同的電流量測檔位測值會有不同。
2、idd失效或量測時有些被量測電流檔位嵌位，需用萬用表實際量測實際電流值。閃燈音效類，遙控器晶元動態電流通常在幾十微安或幾百微安，不會低於靜態電流。當idd電流超出量測範圍一般功能都有可能失效，此時可以實際驗證。
3、電子錶類ic，idd通常都會小於10ua，如ah6802/6803/6804電流值小於3ua。有些產品idd測試中不穩定,這時最直接的方法就是用指標表外部上電驗證看指標是否在擺動來確認idd的不穩定是否為產品原因，如l539122-010在一次測試中idd不穩定失效多，實際驗證用指標表驗證時指標一直在跳動
頻率為ic工作時的osco或測試端輸出頻率，以實際量測為準
1、檢查針卡扎針是否良好，針卡是否焊線脫落/錯誤，電容影響等。
2、頻率無輸岀或不穩定時，確認晶振或振盪電阻是否異常。
3、頻率無輸出或不穩定時，檢查osci/osco是否存在干擾，通常針卡振盪端需作割線處理或盡可能少接線減少干擾
4、頻率不穩定時，檢查硬體原因外,需用示波器確認晶振是否起振太慢。
5、頻率不穩定時，確認頻率輸出波形是否正常，程式設定的電平、取樣點等。
6、頻率無輸岀時，確認程式設定條件是否正確，晶振是否起振
7、實際模擬晶元工作，確認ic是否起振工作。
8、確認頻率輸出異常，其它測試項是否通過，需用示波器確認提岀異常單。
1、振盪端和測試端通常都會作割線處理，減少頻率測試干擾。
2、osci端波形都比較弱，盡可能的少接線或引線延長，特別是接振盪電阻起振的ic。
3、晶振起振時有些產品起振會較慢或起振訊號弱，測試機量測不穩定,可加兩個併聯晶振加快起振或用7404作緩衝，如l539129/130系列產品，ah6804等產品
4、程式取樣電平和取樣次數也會影響頻率測試，如qg產品測三階波開的頻率時高低電平時頻率相同，在低電平時雜訊較多，可以將取樣電平調整到高電平測試。
5、實際頻率失效時，可以用示波器實際點測結果。
以實際驗證結果為準
1、檢查針卡接觸是否良好，針卡是否焊線脫落，錯誤，干擾等因素。
2、檢查dut板使用是否錯誤或焊線脫落，錯誤，pin針脫落等。
3、確認產品是否開關燈測試
4、閃燈音效類ic通過驗證板驗證工作是否正常。
5、通過學習向量與實際正常向量比對是否有較大的差異。
6、調整tp、vih/vil、 voh/vol償試是否功能正常。
7、確認程式是否設定當影響功能測試
8、用示波器驗證輸出波形是否正常
9、確認產品異常需提出異常單確認
1、閃燈音效類ic可以用驗證板驗證功能是否正常
2、tp/vih/vil/voh/vol適當調整，有些閃燈類ic如灌頻太快，功能不穩定或誤放實際應用失效如ah6803 com測試用32khz，100khz可pass但會存在功能失效誤放，實際應用就有問題。ta0810d測試的產品中vil需要加負壓功能測試才會正常，否則在功能向量501行第十四，十五通道h失效。比較電平設定可以通過示波器觀察輸出pin波形幅度來選擇合適的電平，高低電平盡可能的拉開。
3、有些產品會受外界干擾較大，會對針卡割線或接焊線直接焊在針卡pad盤上，如iw0610，lc08157
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