相位不連續性簡單來說就是evm測試的補充。
以下內容主要是做某個專案中遇到的相位不連續性fail問題，其實剛入職不久對於這種bug一點經驗都沒得談，只有問一下身邊的同事或者自己查一下高通的文件，一步一步的嘗試，才有解決的方法。
查了一下資料，相位不連續性即：上行內環功控每個時隙出現一次，而功率的變化會導致相鄰時隙的相位存在差異。相位不連續性即指相鄰的時隙間相位的變化。
相位不連續性如果超過指標要求可能會引起頻譜再生，產生過多的頻譜雜散。
下面是對於指標的要求和解釋：
wcdma中引入slot的目的就是為了實現快速功率控制，而1個10ms的frame分成15個slots，也就是說每秒可以實現功率控制1500次。因此規範中定義δθ ≤ 30的出現率以赫茲表示為1500hz，也就是說正常情況應該每兩個slot的phase delta應該小於30度。
從下圖可以仔細**一下fail的情況：
從圖中可以看出期望功率是4.94，測試功率在7db左右出現大於30度的情況，對於這種情況，可以修改對應的nv項。
1、從下圖可以看到wb1、wb5、wb8分別對應四個nv，wb1為1795、1796、1797、1798，wb5為2071、2072、2073、2074、wb8為3722、3723、3724、3725，這四個nv項從小到大分別對應增益從低到高的補償值。
2、修改前我們需要將所有對應的nv項修改為0，然後去測試，相位連續性測試到的值是多少，這樣就可以在nv裡補償相應的值。
3、以上面那個agilent8960圖為例，我們可以看到，功率是從小往大變化的，功率從低往高走，也就是pa state0(low gain)切換到pa state1(high gain)，pa state1引起了158度的相位突變，你要給pa state1補償-158度把它抵消。如果pa是兩級增益，我們需要給高增益模式補償相應的值，或者給低增益補償+158度可以起到同樣的效果。如果不是兩級增益而是多級增益，則需要看相位不連續性fail時對應的功率是屬於哪乙個增益下的切換點。
4、假如wcdma的pa range是3,0,0,0，那麼低增益就是第一位，後面三位都是高增益，補償低增益只需要補償第乙個nv項即可，補償高增益我們需要把後面三個nv都要補償。
5、計算公式：nv裡面的1代表補償0.3516度，如果要在高增益下補償-158度，那麼就要填寫-158/0.3516=-449，但這個nv只能填入正數，正數的話直接填入，負數的話要加上1024，所以你要填上-449+1024=575。（如上所說低增益模式也就是第乙個nv填寫449也可以起到同樣的效果）
6、修改後的結果，如圖，比修改前小了很多。
另外，修改後有可能會引起相位的變化，但3gpp對wcdma的相位是不做要求的。
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