最近在uboot下移植yaffs檔案系統，基本實現了所有功能，就是還不能和kernel下的yaffs檔案系統相互訪問，懷疑是起始塊位址設定錯誤，經過測試已經排除，另乙個方面有可能是yaffs的校驗問題，發現kernel下使用的是nand ecc校驗，uboot下使用nand ecc校驗會出現很多報錯，所以打算修改kernel下的校驗方式，再將kernel下支援的yaffs改為yaffs試試，如果還不能解決，oh，my god!,我只能求助了。
在uboot下測試yaffs的時候出現了很多假壞塊，所以順便找了篇文章：
1.為什麼會出現壞塊
由於nand flash的工藝不能保證nand的memory array在其生命週期中保持效能的可靠，因此，在nand的生產中及使用過程中會產生壞塊。壞塊的特性是：當程式設計/擦除這個塊時，不能將某些位拉高，這會造成page program和block erase操作時的錯誤，相應地反映到status register的相應位。
2.壞塊的分類
總體上，壞塊可以分為兩大類
（1） 固有壞塊
這是生產過程中產生的壞塊，一般晶元原廠都會在出廠時都會將壞塊第乙個page的spare area的第6個byte標記為不等於0xff的值。
（2） 使用壞塊
這是在nand flash使用過程中，如果block erase或者page program錯誤，就可以簡單地將這個塊作為壞塊來處理，這個時候需要把壞塊標記起來。為了和固有壞塊資訊保持一致，將新發現的壞塊的第乙個page的spare area的第6個byte標記為非0xff的值。
3.壞塊管理
根據上面的這些敘述，可以了解nand flash出廠時在spare area中已經反映出了壞塊資訊，因此，如果在擦除乙個塊之前，一定要先check一下spare area的第6個byte是否是0xff，如果是就證明這是乙個好塊，可以擦除；如果是非0xff，那麼就不能擦除。
當然，這樣處理可能會犯乙個錯誤―――「錯殺偽壞塊」，因為在晶元操作過程中可能由於電壓不穩定等偶然因素會造成nand操作的錯誤。但是，為了資料的可靠性及軟體設計的簡單化，我們就要奉行「蔣委員長」的「寧可錯殺一千，也決不放過乙個」的宗旨。
留下備註。
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