雷射三角法作為目前一種非常重要的非接觸式測量方法，廣泛運用於物體位移、厚度和三維面形等方面的測量。
雷射三角法利用一束雷射經光學系統調節後照射到被測物體表面，形成一小光斑，經過被測物體表面散射後通過接收物鏡聚焦成像在光電探測器的接收面上。被測點的位移資訊由該光點在探測器的光接收面上所形成的像點位置決定。當被測物體移動時，光斑相對於接收物鏡的位置發生變化，相應的其像點在光探測器接收面上的位置也將發生改變，根據其像點位置的變化和測量系統的結構引數可求出被測點的位移資訊。由於入射光線和反射光線構成乙個三角形，所以該方法被稱為雷射三角法。
利用線結構光測量物體的三維形貌是基於雷射三角法的原理實現。本文計算了線結構光（亦即雷射三角法）的理論解析度。如圖1是雷射三角法的示意圖。
圖1 雷射三角法示意圖
圖中a為雷射與ccd靶面之間傾角，h為被測物高度，h'為被測物在靶面的投影，u是物距，v是像距。由圖中幾何關係可得，
設所用相機像元大小
4.4μm
，即h』=4.4μm，選擇傾角α為30
度，鏡頭焦距為25mm
，考慮到鏡頭對焦距離，設定物距為300mm。帶入公式中得到最小
可分辨高度
h =
0.0968mm。
以下是解析度與焦距、傾角關係圖。可知傾角越大、焦距越長，雷射三角法可分辨最小高度越小。
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