隨著工業4.0時代的到來，產業改造公升級的任務已經刻不容緩。各種高度智慧型化自動化資訊化的裝置被越來越多的應用到各行各業。由於裝置的科技含量越來越高，涉及的領域也越來越寬廣，因此通常一套裝置既要有功能豐富的配套資訊管理軟體統籌管理，又要實現高度的自動化生產控制，而且內部的線路連線也更加繁瑣複雜，在這種情況下除錯裝置的難度可想而知。而且不同於民用產品，工業產品對其安全穩定性的要求極為嚴格，所以定期的安全自檢更是必不可少，在這種情況下，如何快速判讀裝置是否安全正常就變得十分重要了。
要想解決問題首先要分析問題，目前在擺在我們面前的是如何解決裝置前期的除錯問題和後期的安全監測問題，也就是就是產品的批量除錯時間過長和產品的定期安檢的置信度不夠。
正所謂「它山之石可以攻玉」，借鑑其他行業的解決方法不失為一種良策。在晶元製造領域，每批次的晶元生產少則幾萬，多則幾千萬。那如何快速檢測每個產品是否合格呢？答案就是自檢邏輯。我們知道每個晶元都要實現它自己應該支援的邏輯功能，但卻很少有人知道，它其實還包括一些「無用」的自檢邏輯。在晶元越來越小型化的今天為什麼還要新增額外的後期用不到的邏輯功能呢？當然是有原因的，那就是快速判讀晶元是否合格，它能在極其短暫的時間內快速判讀乙個晶元是好的還是壞的。從時間這個角度來看，它浪費的哪一點硬體資源就顯得微不足道了。所以我們的智慧型裝置也要實現這樣的自檢邏輯，它的目的不僅僅是判斷裝置是否合格，更要定位問題所在。要定位到哪個模組有問題，要定位到哪個儀器有問題，要定位到哪條鏈路有問題，要定位到哪條線路連線有問題，甚至要定位到每乙個開關，每乙個閥門，每乙個感測器。雖然我們在前期的開發時間會變長，但是它能大大縮短後期的批量除錯的時間和並且顯著提公升產品定期安檢的置信度，我們製造的每乙個產品都像製造乙個晶元的那樣安全可靠讓客戶用的安心，與這些比起來前期開發的額外工作是值得的。
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