stm32內部參照電壓vrefin的使用
stm32的內部參照電壓vrefint和adcx_in17相連線，它的作用是相當於乙個標準電壓測量點，內部參照電壓vrefint只能出現在主adc1中使用。
內部參照電壓vrefint與參考電壓不是一回事。adc的參考電壓都是通過vref+提供的並作為adc轉換器的基準電壓。
當我們使用的vref+是直接取自用vcc電壓時，當vcc電壓波動比較大時或穩壓效能比較差時，可以借用stm32的內部參照電壓vrefint校正測量精度。
以測量1通道的電壓值為例，先讀出參照電壓的adc測量結果，記為adre；再讀出要測量通道1的adc轉換結果，記為adch1；則要測量的電壓為：
vch1 = vrefint* (（（adch1*（vref/4096））/（adre*（vref/4096））)
注：vrefint=1.2v，vref為參考電壓值=3.3v
公式簡化：
vch1 = vrefint*（adch1/adre）
這種方法等於變相將內部參照電壓vrefint當成是adc參考電壓，也就是說，此時vref參考電壓的準確度已在此已對結果影響不大了，adc的轉換結果基本由vrefint的精度決定。
注：一般情況下，這種辦法只適合於當vref+參考電壓（其實也就是vcc電壓）離散性實在太差的情況下使用。
我們知道，stm32中64腳和小於64腳的型號，vref+在晶元內部與vcc訊號線相連，沒有引到片外，這樣ad的參考電壓就是vcc上的電壓，那麼我們可以使用乙個高精度的外部參照電壓，然後用上面的方法，也許可以解決因vcc電源電壓精度不高帶來的adc測量不準確的問題。
本帖最後由 abbott 於 2014-5-5 08:56 編輯
建議採用以下方法結合使用：
1，採用內部參考
內部參考在晶元出廠時已經校準過精度了！（不清楚是否所有型號都校準過）
其廠內校準過程是在外部供3v電源，將取樣內部參考的adc值寫入校準暫存器vrefint_cal！
因此，我們可以使用以下公式算出實際電壓：
v=(3*vrefint_cal*adc_data)/(vrefint_data*full_scale)
根據這個公式，程式需要獲取vrefint_data和adc_data!
不過我們實際測試這個電壓參考在低溫下偏差比較大，可能是晶元本身的問題，目前還不清楚是全系列，還是個別型號有這個問題！
2，使用過取樣!
adc 取樣 通道
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msp430或stm32，在使用內部adc出現的取樣資料異常抖動問題 取樣設計 用於檢測供電線路電流及電壓。產品執行在兩種模式下，1 低功耗靜態模式 倉儲態 2 全功能全速執行模式 工作態 在倉儲態下，所有外設均處於關閉狀態，mcu也處於低功耗模式下 如msp430處於lpm3模式，stm32處於s...
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