在實際的電路板上,大量各式主,被動元件通過串,併聯方式連線起來. 下述情形,ict無法測試或無法準確測試.
1) 探針不可即的零件
一般來說,每個零件的兩端(或各引腳)所在的銅箔面均有探針觸及才可測試.
目前, 本廠smt零件,ic腳(包括懸空引腳)少數因沒有相應的test point而未取探針,致使這顆零件以及與之相關的開短路不可測. 今後可考慮在同一金道上加裝雙針(確保探點接觸良好)來解決.
sub-board上的零件,多數零件沒有取到針號,故不可測. 最好是生產時sub-board亦用ict測試.
2) 小電容併聯大電容(c1//c2),小電容不可測
兩電容併聯後,容值為c1+c2, 一般而言,如果c2的容值是c1的10倍以上,則c1不可測.
假設: c1=100nf ;c2=1uf.
通常,實際之電容均以標準電容量的±20%的誤差表示之. 故在編制程式時,通常設±tolerance為20. 設標準值為100nf+1uf=1100 nf.則:
下限為1100 nf*(1-20%)=880 nf;
上限為1100 nf*(1+20%)=1320 nf.
當c1缺件時, c1+c2=1000 nf, 仍在880 nf~1320 nf的範圍內,故c1不可測.
實際電子線路中,常見大,小電容併聯,或者是小電容經電感或小電阻與大電容併聯. 所以小電容不可測的情形最常遇到.
3) 大電阻併聯小電阻r1//r2,大電阻不可測
一般而言, 如果r1的阻值是r2的20倍以上,則r1不可測.
兩電阻併聯後,其阻值為r1*r2//(r1+r2),比小電阻略小. 這時大電阻缺件不可測. 當然,如果r2錯成r1,只要下限小於50,仍然可測.
計算方法同樣可參照以下計算方法，假設r1是10歐姆，r2是200歐姆，上下限為±10%，則設定標準值為r1*r2//(r1+r2)=9.5
下限為9.5*(1-10%)=8.55
上限為9.5*(1+10)=10.45
當r2缺件時，r1//r2=10,仍然在8.55~10.45的範圍內，故r2缺件不可測。如果r2錯件成r1，則r1//r2=5,不在8.55~10.455的範圍內，所以錯件可以測出。
同理, 與跳線併聯的電阻(j//r),不可測.
4) 小電阻過小, 無法準確測試.
慮及探針接觸電阻,排線公母聯結器之間電阻(反覆插拔會增大)等影響,(約幾百毫歐至幾歐),故上限要放寬.
例如: 四顆0.47ohm的電阻併聯,假設其中一顆缺件,系統不可測.
另外通過pin search 可以探測到探針到開關板之間的阻抗值，應保證在1歐姆以內，測試小電阻就比較準確了，也可以嘗試四線制測試小電阻。具體0.1ohm 的電阻﹐誤差=+/-20%
5) 同一金道上的跳線以及相併聯的的跳線不可測, 不同粗細或不同材質的跳線不可測.
6) 大電阻//大電容, 大電阻無法準確測試.
這是所說的"大", 實際除錯時才能判定是否可測.從測試原理部分分析：
例如：r1為100k歐姆的電阻同1mf的電容c1併聯，
電容的容抗為：zc=1/(2*3.14*50*1*0.001)=3.18
電阻的阻抗為： zr=100000歐姆
所以可以看出，大電阻無法準確測試，具體電路還要具體分析，套用上述公式計算是否可以準確測試。
7) 小電容//小電阻,小電容無法準確測試.
釆用ac法,小電容呈現高阻抗, 與大電阻併聯小電阻同理, 小電容無法測.
釆用交流相位分離法,當電容,電阻均較小時,其相拉差漸趨於0.故小電容也無法準確測量.
8) 與小電感併聯的較大電阻,常不可測.
釆用定電流法,電感通直流,使電阻兩端短接而不可測.
釆用交流相位分離法, 小電感併聯大電阻,其相拉差漸趨於π/2. 故常不可測.
而與大電感併聯的小電阻,則可試蓍以相位分離法測量出來.
9) 電容併聯電感,, 兩者往往都不可測.
這時所說的電感,包括變壓器,繼電器等.
小電容併聯小電感, 同理於小電容//小電阻,小電容無法準確測試..當電容較大時,其本身一般可以測. 電容較小時,電感感值可以測. 當然,如把電感當成一小電阻(一般須加延時測試), 始終可以測出內部斷開或缺件的情形.
10) 二極體//小電阻, 二極體插反或漏件均不可測
對於矽材質的二極體,其正向偏置電壓約為0.7v.
當r約為35~45ohm以下時,二極體插反或漏件均不可測.
因ict係非破壞性測試,所提供電流較小,一般最大約為20ma(mode 1). 當r約為35ohm以下時,其正反向所量到的電壓小於v=i*r=0.7v. 則二極體插反甚至漏件,所量到的結果不變.
11) 與跳線或電感併聯的二極體(l//d,j//d)不可測
通常二極體的正向壓降為0.7v,反向壓降》0.7v.
與第10條同理, 如果d//j或d//l.則,正反向壓降約為0. 這時,二極體插反,漏件, ict測到的結果仍為0,和正確時相同,故不可測.
12) 兩個二極體同向併聯, 其中乙個漏件或空焊不可測
l 但插反應在可測之列
l 而兩個二極體異向併聯,其漏件或插反均應在可測之列.
(以上兩點須釆用正反向雙步測試, 方可有效檢出.)
另外：tr518ep以上測試裝置(tr5001,tr8001)通過測試漏電流的原理，可以測試出漏件，空焊。
此處所說的二極體泛指pn結.包括diode,transistor,fet, photo coupler,scr,ic等內的pn結.
13) zener的齊納電壓
因ict系統tr518f,tr518fe,tr518fv最大僅提供10v的電壓, 故如果齊納電壓大於10v, 則無法測試.當然,如果錯成齊納電壓小於10v的zener,仍在可測之列.tr518fr可提供48v,此部分可以測試。
14) 電容極性
ict利用電解電容正反向漏電流之差異,判定其是否插反. 但在整個網路中,常遇到電感(包括變壓器),ic,小電阻等的分流作用,正反向漏電流並無明顯差異,則極性無法測試. 故電容極性測試比較有限.
針對電解電容一般使用三端測試，效果很好，併聯電解電容掉件，反向可測率接近100%。
15) 電容容值過小時,常不可測
ict可以偵測1pf的電容, 其方法是扣除雜散電容而得一較穩定的值. 但是,如果測量值受旁路影響而使其極不穩定,變化幅度超過被測電容容值,則電容缺件不可測. 當然,如果其錯件為一較大電容,仍然可測.
晶振,突波吸收器作小電容測試,有時漏件不可測.除錯時要細心試驗.
16) 小電感錯件為跳線或被短路
例如: bead錯件為跳線或短路. 當然,其缺件或斷開仍然可測.
而變壓器宜將每繞組作電感來測試，以利於測出短路情形。
17) ic內效能不良
ict通過測其保護二極體,可判定ic空焊,開短路,插反,錯件以及保護二極體不良.但對於ic內部效能不良須仰賴其它測試. 另外,共地的若干個ic腳空焊常不可測.
18) connector,開啟的switch缺件或插反不可測
因其處於open(每pin之間)狀態. 但若是以hptestjet 技術在其上加裝sensor plate來進行測試,仍可測出空焊, 缺件等.
19) 可調電阻(vr),熱敏電阻無法準確測試
20) fet常遇空焊不能測
例如,n型溝道增強型絕緣柵場效電晶體(mosfet),通常在d-s間存在一pn結,可作diode來測試,而g極處於絕緣狀態. 對於id的測試,常因受旁路分流而使其在g極空焊時仍量到一沒有多大變化的值.故對於fet, 要細心試驗,使之可測.
21) 零件空焊
零件空焊一般都可以有效的偵出.但下述情形極為偶然.
雖然零件空焊,但探針借助彈力仍與零件腳接觸良好時,這顆零件測量值就為正確,從而未有效檢出空焊. 且因為探針的壓迫,使零件腳碰觸金道導通,故open/short測試亦未能測出來.(故最好選取test pad作探點)
( 以上敘述作參考 )
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