缺陷密度
: 基本的缺陷測量是以每千行**的缺陷數
(defects/kloc)
來測量的。稱為缺陷密度
(dd)
，其測量單位是
defects
／kloc
。缺陷密度
=缺陷數量
/**行或功能點的數量。
可按照以下步驟來計算乙個程式的缺陷密度：
1.累計開發過程中每個階段發現的缺陷總數
(d)。
2.統計程式中新開發的和修改的**行數
(n)。
3.計算每千行的缺陷數
dd=1000*d/n
。例如，乙個
29.6
萬行的源程式總共有
145個缺陷，則缺陷密度是：dd＝
1000*145/296000=0.49 defects
／kloc。
在缺陷密度度量中存在的兩個主要困難是： 1.
缺陷權值如何計算：是否將嚴重程度較輕的缺陷和較重的缺陷同等對待？
2.**行怎麼統計：**行的數量可能會因程式設計人員的技術水平和所使用的語言不同而不同。 3.
對於黑盒測試人員，可能不太容易獲取到**行數。
為了解決以上問題，缺陷密度計算方法可以改為
d/c即缺陷總權值
除以功能總權值
缺陷總權值計算方法
= sum
（缺陷數
x該缺陷等級的權值） 假如
缺陷等級有四級 等級
權值 blocker
：阻塞-
阻塞開發或者測試工作進度，或影響系統無法正常執行
10
critical
：致命-
系統崩潰，丟失資料或記憶體溢位等嚴重錯誤5
major
：嚴重-
主要功能或業務無效3
minor
：普通-
系統功能部分無效1
trivial
：瑣碎-
拼寫錯誤，文字未對齊，資料長度格式校驗等
0.5
假如有1個
blocker
錯誤，1
個critical
錯誤，3
個major
錯誤，6
個minor
錯誤，10
個trivial
錯誤，那
d=1*10+1*5+3*3+6*1+10*0.5= 35
權值可以根據自己專案的實際情況，進行擬定
功能權值計算方法跟缺陷權值計算方法類似，專案經理根據各個功能模組的複雜度擬出每乙個模組權值，為了對不同專案缺陷密度的可比性，不同專案的功能權值要求要基本大致相同。
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