在硬體系統出廠前要進行產品測試；在嵌入式系統工作之前，一般也要進行自檢，其中rom和ram檢測必不可少,可是有不少人對於測試目的、原因和方法存在錯誤理解。
為什麼要測試rom和ram，怎麼測試呢？普遍的看法是：由於擔心rom和ram晶元損壞，在出廠和使用前應該校驗這兩種晶元的好壞。測試ram的方法是寫讀各個記憶體單元，檢查是否能夠正確寫入；測試rom的方法是累加各儲存單元數值並與校驗和比較。這種認識不能說錯，但有些膚淺，照此編出的測試程式不完備。一般來說，rom和ram晶元本身不大會被損壞，用到次品的概率也比較小，真正出問題的，大都是其他硬體部分，因此，測試rom和ram往往是醉翁之意不在酒。
rom測試
測試rom的真正目的是保證程式完整性。
嵌入式軟體和啟動**存放在rom裡，不能保證長期穩定可靠，因為硬體注定是不可靠的。以flash rom為例，它會由於以下兩種主要原因導致程式揮發：
1。受到輻射。本身工作在輻射環境裡/運輸過程中受到輻射（如過海關時被x光機檢查）。
2。長時間存放導致儲存失效，某些0、1位自行翻轉。
無論如何，在硬體上存放的程式都是不可靠的。如果完全不能執行，那到也不會造成太大的損失。怕就怕程式可以執行，但某些關鍵資料/關鍵**段被破壞，引發致命錯誤。為此，必須在程式正常工作前，在軟體層面上保證所執行的程式100%沒有被破壞，保證現在要執行的程式就是當初寫入的。
保證程式完整性的方法很多，例如對全部程式進行crc校驗(-16和-32)/累加和校驗(移位累加)，只要能在數學上確保出錯概率極低，工程上就可以認為程式完整。
程式完整性測試通過，捎帶著也就證明了rom沒有被損壞。即測試rom是否損壞只是測試的副產品，不是主要目的。
ram測試
測試ram的真正目的是保證硬體系統的可靠性。
ram真的是太不容易壞了，我至今還沒有看見過一起因為ram損壞導致的系統不正常現象。不過大部分問題卻可以通過ram測試反映出來。仔細想想，當硬體被生產出來/被插到背板上究竟會發生什麼錯誤呢！是不是感到自己做的板子出問題的可能性更大！請考慮如下幾點：
1。生產工藝不過關，過孔打歪了，與臨近訊號線距離不滿足線規甚至打在了線上。
2。由於搭錫引起的訊號線粘連。
3。虛焊/漏焊引起的接觸不良。
4。不按規程操作，把手印兒印在了高頻線上。
5。板子髒了也不吹，覆蓋了一層灰塵(內含金屬微粒)。
......
這些現象比較有趣，試舉幾例：
1。位址線a0和a1粘連。讀出***00、***01、***10三個位元組的資料完全一樣。
2。資料線d0和d1粘連。d0和d1只要有乙個為0，那麼兩條線都為0。
3。接觸不良。時好時壞。
4。器件表面處理不乾淨，有助焊劑殘留。低速訪問正常，大負荷高速訪問頻繁宕機。
總之，我們做的板子在生產中和使用中都會有出錯機會，所以出廠前必須測試，使用前必須自檢。(當然如果你做的不是實際產品而是實驗室樣品的話，可以簡化步驟。)
我總結的方法是這樣的：(如測試乙個ffh位元組的ram)
首先，測試位址線，
1。'0'滑動，隨機選擇乙個數如55、aa之類，依次寫到feh、fdh、fbh、f7h、efh、dfh、bfh、7fh位址單元裡去，把位址寫成二進位制數，可以看到位元0在位址匯流排上從低到高滑動，謂之'0'滑動。目的是測試這些位址線在依次變0時是否穩定正常。當每一根線由1變0，會產生下衝，如果下衝控制不好，在高頻時會引起錯誤。單板上位址線不一定一樣長，下衝也就不會完全一樣，因此，每一根線都單獨測一下下衝效能。
2。'1'滑動，隨機選擇乙個數如55、aa之類，依次寫到1h、2h、4h、8h、10h、20h、40h、80h位址單元裡去，把位址寫成二進位制數，可以看到位元1在位址匯流排上從低到高滑動，謂之'1'滑動。，目的是測試這些位址線在依次變1時是否穩定正常。當每一根線由0變1，會產生上衝，如果上衝控制不好，在高頻時會引起錯誤。單板上位址線不一定一樣長，上衝也就不會完全一樣，因此，每一根線都單獨測一下上衝效能。上衝和下衝是不同的指標，要分別測一下。
3。"全0變全1"，隨機選擇乙個數如55、aa之類，寫到ffh單元，再寫到00h單元，然後寫到ffh單元。把位址寫成二進位制數，可以看到位址線從全'0'變到全'1'。由訊號處理理論知，在電壓階躍跳變時包含無限寬頻譜，其中高頻部分對外產生輻射，這些輻射訊號是干擾源，對臨近線路產生較大影響。位址線一般集束佈線，同時跳變會引起最大干擾。位址線從全'0'變到全'1'，干擾、上衝、扇出電流影響最大。
6。可選"全0全1連續高速變化"。目的是模擬最惡劣情況(大扇出電流、強干擾、上/下衝)。
然後，測試資料線，(原理與測試位址線相同，1、2兩步順帶測試了資料線粘連)
1。'0'滑動，向某一固定位址依次寫入feh、fdh、fbh、f7h、efh、dfh、bfh、7fh並讀出判斷。
2。'1'滑動，向某一固定位址依次寫入1h、2h、4h、8h、10h、20h、40h、80h並讀出判斷。
3。"全0變全1"，所有單元置1(先清零再置1並讀出判斷)。
4。"全1變全0"，所有單元清零(清零並讀出判斷)。
5。可選"全0全1連續高速變化"。向某一單元高速交替寫入若干全'0'和全'1'，最後以全'0'結束。
至此，ram測試完畢，同時全部儲存單元清零。
對於出廠檢測程式，有較大發揮餘地，如可以加入錯誤定位**，自動指出錯誤原因和錯誤位置。
每一塊單板的高頻特性都會因為生產工藝誤差(製板、材料、焊接、組裝等)和使用情況而各不相同。同一塊板子的高頻特性在不同情況下表現也不相同。
綜上所述，除了測試ram好壞，大部分**測的是單板硬體可靠性。
如果不關心高頻特性，用原來的測試方法就差不多了(如果測試資料沒選好，可能測不出資料線粘連)，但應該認識到，測試ram的主要不是ram本身的好壞，而是連線ram的單板硬體和線路。
以上是我實際工作經驗的一些總結，寫出來與大家交流，如有不對之處懇請指正！
源程式(偽**)
//test rom
testrom()
if(sum==checksum) printf("rom test ok!/n";
else printf("rom test error!/n";
}//test ram
testram()
RAM和ROM是什麼？RAM和ROM其實都是記憶體
ram是隨機訪問儲存器 random access memory 是計算機內部儲存器中的一種，也是其中最重要的，計算機和手機中一般把其叫做執行記憶體，它的速度要比硬碟快得多，所以用執行程式在ram中，而存放執行時不用的資料則在硬碟中，什麼時候需要資料，便把資料從硬碟中拿到記憶體，但同時ram斷電會丟...
RAM和ROM的區別
ram ramdomaccessmemory易揮發性隨機訪問儲存器，高速訪問，讀寫時間相等，且與位址無關，如計算機記憶體等。rom read only memory唯讀儲存器。斷電後資訊不丟失，如計算機啟動用的bios晶元。訪問速度很低，較ram而言 且不能改寫。由於不能改寫資訊，不能公升級，現已很...
RAM和ROM的區別
隨機訪問儲存器 random access memory，ram 又稱作 隨機儲存器 是與cpu直接交換資料的內部儲存器，也叫主存 記憶體 它可以隨時讀寫，而且速度很快，通常作為作業系統或其他正在執行中的程式的臨時資料儲存媒介。當電源關閉時ram不能保留資料。如果需要儲存資料，就必須把它們寫入乙個長...