m5000 plus高效能全譜型火花直讀光譜儀，是聚光科技基於十幾年的火花直讀光譜技術，全新推出的基於cmos（互補金屬氧化物半導體）感測器的光譜新產品，專為金屬材料分析行業打造的高階火花直讀光譜儀。主要為滿足金屬冶煉、鑄造加工及金屬科學研究等過程中金屬材料化學成分的分析檢測，實現精準質量控制。
效能優勢
科研級cmos檢測器，全元素分析，開創ppm級元素分析新紀元
雜訊低 科研級感光元件雜訊小，抗干擾強，具備防光暈技術
抗干擾 cmos探測器整合度高，可避免外部電路引入雜訊
讀取速度快 採用oeo（optimal element-oriented）技術，畫素訊號單獨讀取，實現引數優化設計
紫外響應高 超高紫外響應靈敏度，無需鍍膜，實現非金屬元素（n,c,s,p）分析，效果更優
經典雙光室設計，光譜範圍寬，元素解析度***
獨立設計的紫外光學系統，激發臺直接採光，專為n，c，s，p等紫外元素測量設計，刻線數多，解析度高，兼顧高分辨和譜線範圍優勢，譜線範圍寬，分析元素多，效能好
單獨設計的紫外光學系統，體積小，結構簡單，無死角，採用獨創多孔吹掃技術，可將空氣迅速吹掃乾淨，確保元素分析效果
穩定性公升級，重新定義光學產品穩定性
壓鑄鋁合金整體光室，4級消除應力處理
光室恆溫設計，保證光譜位置長期穩定，不漂移
氣流路的精確設計，一切為了結果更穩定
專利的rtmc光譜優化技術，帶來更穩定的體驗
全數字脈衝光源，自動選擇最優能量保證分析的準確性與重複性
易用性公升級，給使用者更簡單、高效的使用體驗
優質硬體與特定演算法的完美結合，多重穩定保障，更好地監控儀器執行狀態，提公升分析效果，減少校準頻率
支援全譜分析檢測，拓展性更高。增加分析基體和元素無需增加硬體，通過軟體即可擴充套件分析範圍，使用更靈活
智慧型曲線功能可滿足對所有材料的分析需求，真正實現未知樣品分析，無需糾結模型選擇，操作更加簡便
友好的人機互動設計，軟體主介面簡潔清晰，圖形化顯示，短時間即可學會並熟練操作軟體
新增遠端維護功能，可遠端公升級韌體程式，遠端檢查儀器狀態，對儀器生命週期健康負責
應用領域
經分測試M5000重啟進入維護模式
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