統計過程控制與評價 Cpk SPC PPM

cpk(process capability index)--工序能力指數

spc(statisical process control)--工藝過程統計受控狀態分析

ppm(parts per million)--百萬分之幾

1.1 對現代電子元器件生產，常規可靠性評價方法（抽樣實驗、可靠性壽命試驗、現場使用資料積累等）存在什麼問題？

抽樣方法 不能區分出高水平產品之間的質量差別。

可靠性壽命試驗 在失效率水平目標未10fit時，要求的樣品數多達幾萬個，這個樣本試驗的成本太大了

現場資料採集與積累方法  滯後性 。新研製的產品要使用一段時間後才能得出結論。

隨時間變化電子元器件的失效曲線。

通過「試驗再篩選」只能剔除早期失效的產品，並不能降低偶然失效期間的失效率。因此篩選只能提高產品的使用可靠性，並不能真正提高產品的「內在質量和可靠性」。

可靠性是設計、製造出來的。 

元器件生產廠家通過試驗篩選只能剔除早期失效的產品，只有通過設計和製造才能降低偶然失效期間的失效率，推遲損耗失效的發生時間，真正祈禱提高元器件內在質量和可靠性的作用。

因此，可以改變支隊最終產品進行評價的傳統方法，通過對設計和工藝的評價來評價元器件產品的內在質量和可靠性。

t=0時的「失效」決定了成品率，t>0 以後的失效表現為可靠性。因此元器件的可靠性與成品率之間必然存在相關性。

元器件功能成品率與可靠性之間的聯絡----工藝缺陷

元器件引數成品率與可靠性之間的聯絡----工藝引數分散性

一般情況下，工藝引數服從正態分佈。對一定的工藝規範要求。超出規範範圍的就是不合格品。工藝引數越集中，成品率當然越高。而且表現出較高的可靠性。

影響元器件質量和可靠性的共同原因是工藝中不可避免地要產生「缺陷」，工藝引數都有「分散性」。如果「缺陷」趨近於零，工藝引數沒有分散性，則工藝成品率趨於100%，而失效趨於0.

也就是說，只有在工藝水平很高的生產線上，才能生產出***、可靠性高的產品。

因此，通過工藝成品率的評價，或者對工藝水平的評價能反映出產品的內在質量和可靠性水平。

cpk: 是評價工藝線是否具備生產***、可靠性高的元器件所要求的工藝水平的指標。目前國際上採用的先進評價指標要求元器件生產線上關鍵工序的工序能力指數cpk不小於1.5。

spc：在日常生產過程中生產西安能一直保持高水平的生產狀態。為此，要求採用統計過程技術，目的是通過spc分析，證明在生產過程中未出現異常情況，從而保證提供的產品是在受控的環境下生產的。具有較高的內在質量和可靠性。

ppm：為了評價產品的內在質量，還要求對一段時間範圍內出廠產品的平均質量水平ppm值進行考核，證明出廠產品的不合格品率ppm值已控制在比較低的數值上。從而反映出產品具有較高的內在質量和可靠性。

1.5 整機廠在採購元器件時，為什麼要求元器件生產廠實施cpk、spc和ppm技術，並且要求提供cpk、spc、和 ppm 資料？

乙個產品有很多個生產上下游企業共同完成，這幾項技術的應用應該「前後呼應」這樣才能實現最終產品的高可靠性。

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