掃瞄過程螺旋掃瞄可改善材料科學分析結果的三種方法

如今，研究人員使用microct來識別可能造成重大故障的空隙、孔隙和裂縫等缺陷。越來越多的材料科學家將microct作為失效分析的重要部分，引入先進的螺旋掃瞄技術結合迭代重建演算法，可以獲得以往無法實現的高保真影象，也將microct推向了乙個新時代。

microct工作原理

microct的一側為x射線源，用於發射x射線照射樣品，另一側是探測器，用於採集透過樣品的x射線，從而產生影象。樣品稍微旋轉後，再次採集一張影象，樣品不斷旋轉，從而不斷重複採集過程獲得一系列影象，最後再通過軟體處理形成三維影象。

microct之所以能夠產生三維影象，

是因為較硬的材料會吸收更多的x射線，

而較輕的材料會允許更多的x射線通過。

螺旋掃瞄的優勢

傳統的環形掃瞄microct裝置通常是在樣品的中心位置進行掃瞄，而螺旋掃瞄採用更為複雜的掃瞄技術，極大提公升了microct效能水平。螺旋掃瞄採用的是螺旋軌跡以涵蓋樣品從上到下的全部區域，同時利用獨特演算法，將採集到的一組良好聚焦的資料形成無縫影象。

螺旋掃瞄可以幫助研究人員顯著改善失效分析結果，與環形掃瞄相比，其優勢主要體現在以下三個方面：

影象保真度無與倫比

材料科學家使用螺旋掃瞄microct，

可以使樣品和探測器更靠近射線源，

從而提高x射線效率並獲得最佳訊雜比。

用途廣泛，可滿足多種樣品研究需求

分別採用標準鎢燈絲(左)

和六硼化鑭燈絲x射線源(右)

觀察鋰電池中的鋁矽複合材料。

測量準確且精確

螺旋掃瞄microct提供優質的影象質量，幫助材料科學家清楚地區分易被忽略的細節資訊。螺旋掃瞄microct應用廣泛，且具備高精度測量能力，助力科學家更快、更準確地識別樣品中的失效問題，從而降低成本，提高質量控制全過程的生產率。

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