測試core電壓（1.26v）時發現紋波比較大，5臺故障較易復現的紋波都超過了100mv,在100-150mv之間,實際要求在63mv以下；其餘5臺不易復現故障的紋波也達到100mv左右；dc-dc輸入端的紋波均在600mv左右或以上。而core電壓紋波過大會造成cpu工作不穩定，可能會造成重啟。
1、降低dc-dc輸入端紋波後，9臺裝置均沒有在實驗室復現故障；
2、對2臺裝置的相關到這個紋波的物料逐一對調，最後發現dc-dc輸入端的電容及磁珠有些問題；領取新物料驗證都是ok，沒有發現問題；
3、對工廠庫存900臺（與***xx是同一批次生產的）中抽取100臺進行了開箱測試，結果見附1，統計結果如下：
紋波大於80mv的有3臺；
紋波介於63—80mv的有42臺；42%
小於63mv的有55臺。
測試中發現串接在dc-dc輸入端的磁珠前後的紋波差異很大，磁珠前有90mv左右，磁珠後有600mv以上。經分析，由於磁珠有一定的直流阻抗，而我們電路中實際電流不是乙個穩定的電流，變化快而大，當此快速變化的電流流經磁珠後會產生快速變化的壓降，從而形成了較大的紋波。由於磁珠後面的10uf電容c15(pcb上)沒有上件，只上件了遠離磁珠的靠近dc-dc輸入端的電容c14，造成不能很好的降低紋波。對於此批裝置更改紋波ok後，打流測試沒有發現重啟現象。
為降低輸入端紋波，有兩個方法，一是上件電容c15(pcb上靠近磁珠)，經測試能有效降低紋波到400mv以下，400mv以下的輸入端紋波經驗證不會造成dc-dc輸出端紋波的變化；二是將磁珠換成0ohm電阻，經測試紋波可以降低到100mv以下。
更改前： dc-dc輸入端測試點c16
core電壓測試點c205
更改後：dc-dc輸入端測試點c16
core電壓測試點c205
這次的問題主要是由於測試不充分引起，以前從來都不關注dc-dc輸入端的電壓和紋波，包括測試部轉測試也不會覆蓋這項測試，今後需要更注意測試的全面性。
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