參考：
隨著tft-fpd（thin film transistor-flat panel display）技術的普及，平板顯示器已經徹底替代crt顯示器技術。平板顯示的種類很多，按顯示媒質和工作原理分，有液晶顯示（lcd,）、等離子顯示（pdp）、電致發光顯示（eld）、有機電致發光顯示（oled）、場發射顯示（fed）、投影顯示等。目前流行的主要是液晶顯示器（lcd, liquid crystal display） fpd顯示器的生產主要集中在東亞，日本、南韓、中國（大陸和台灣）。
在生產過程中，由於工藝的問題，面板上會有一些缺陷。這些缺陷的存在，會影響顯示屏的視覺效果。這些缺陷，包括點狀缺陷（面板上有些點不隨著內容的變化而變化，始終顯示亮或者暗）、線狀缺陷（面板上有些水平線和垂直線不隨著內容的變化而變化，始終顯示亮或者暗）和mura（本身隨著內容的變化而變化，但是顯示偏暗或者偏亮，是面板上的低對比度缺陷）。因此，在面板生產出來後，需要點燈然後檢查顯示是否正常。這個一開始主要是人工目視來檢查，但是隨著面板產量越來越大、人力成本越來越高、面板也越來越大，業界逐漸使用機器視覺系統（aoi）來輔助目視檢查。
此類aoi系統，日本、南韓應用較早，中國大陸目前也逐漸使用。因為產業上有這樣的需求，所以日本、南韓和台灣的相關大學和研究機構對相關問題進行了研究。由於點、線缺陷是明確的，容易檢出，而mura的對比度較低，因此相關研究主要集中的mura的檢查上。
mura不是明確意義上的「壞點」，不同的人感覺可能不同。mura是面板上低對比度缺陷，是面板上低對比度的不均勻性。mura檢查就是要把人能感覺到的低對比度視覺差異尋找出來，並且定量化。所以，對mura檢查來說，乙個根本問題就是，人能夠感覺到什麼樣的視覺差異的極限是什麼？這就是所謂的最小可覺差 (just-noticeable difference, jnd)。
最小可用ID
描述 在非負數 亂序 中找到最小的可分配的id 從1開始編號 資料量1000000 輸入 第一行 陣列長度 第二行 陣列元素 輸出整數 樣例輸入 5 3 2 1 4 5 7 8 9 樣例輸出 解題思路 首先分析題幹在亂序陣列中尋找那個空缺的數 解法一 暴力迴圈o n 2 static intf in...
最小可用id和bitmap演算法
18,4,8,9,16,1,14,7,19,3,0,5,2,11,6 比如這個列表,很明顯,最小可用id為10 最簡單的演算法也異常簡單,就是1 18每個數都進行一次遍歷,找到為止,但是效能也可想而知的非常差 我們進行第一步優化 就是將這些id,第一次遍歷後進行一次索引,然後再查詢起來就非常簡單了 ...
設計寶典之MUD 最小可用設計
一尺之錘，日取其半，萬世不竭。不管我的設計進展到 我總覺得我還在半路，所以我常常請求延遲幾個星期來完成剩下的細枝末節，反正怎麼算都會預期多至少兩星期。因為不管你怎麼做，你所處的位置離你的終極目標總差這麼一半。在 zeno s paradox 裡也有類似的表述 假如你想穿越某個森林，如果是先走一半，走...